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X荧光光谱仪 XRF物理的元素分析仪

X荧光光谱仪,简称XRF,是一种物理的元素分析方法,具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势,在电子、电器、珠宝、玩具、服装、皮革、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业发挥了重大的作用。

XRF-UX-450型X荧光光谱仪,采用美国电制冷Si-PIN探测器,大幅提高了仪器的检出限和检测精度,元素测试范围:从硫S--铀U的所有元素。

主要应用有:准确检测欧盟RoHS指令限制的有害物质,铅Pb、汞Hg、镉Cd、六价铬Cr、多溴联苯、多溴联苯醚;卤素氯CL、溴Br;玩具、服装、皮革等行业限定的8大重金属,镉(Cb)、铅(Pb)、汞(Hg)、铬(Cr)、锑(Sb)、砷(As)、钡(Ba)、硒(Se);合金成分分析;镀层厚度检测等等。

一  、产品概述

4.1       特点

4。1。1。       工业电脑及仪器一体化集成,运行稳定且外观精美;

4.1.2.       采用真实500万像素摄像头,样品观察清晰,定位准确;

4.1.3.       采用独特元素二次强度提取算法,提高了微量元素的检出限;

4.1.4.       自定义的物料测试完成声音提醒功能,方便操作人员多任务工作;

4.1.5.       工作指示灯采用流水灯控制模块,操作人员更直观了解仪器状态;

4.1.6.       软件集成了同一模式多个RoHS限量标准的判断功能;

4.1.7.       同一软件集成了成分分析和镀层厚度分析。

4.1.8.       核心配件独立模块设计,避免相互电磁干扰,提高了仪器的检出限,降低了仪器的故障率;

4.1.9.       多种语言软件版本。






4。2       功能

4。2。1        集成数据统计功能,方便品质部门通过筛选统计供应商、物料名称、部件以及通过不同时间段测试状况;

4.2.2        提供开放式工作曲线标定功能,可为用户量身定做最佳的有害物质检测方法和控制方案;

4.2.3        软件开机自检与故障判断功能,保证仪器始终在最佳工作状态下运行以及出现异常时及时排除;

4.2.4        分析数据一键备份\还原功能,避免因误操作或其它原因造成的损失,保障数据及系统文件安全;

4。2。5        根据用户需求自行定制测试报告输出格式(Excel、PDF和列表等),符合工厂多种统计要求;

4。2。6        软件支持多用户注册,便于品质部门快速追溯疑问物料检测情况;

4.2.7        具有核心硬件实时温度监控功能,通过热源分析设计与软件实时控制,将硬件的热量及时排出,减少探测器受温度变化而产生的影响;

4.2.8        分析软件具有因样品材质、形状、大小的不同而自动设定管压\管流,能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能,大幅提高测量精度;

4.2.9        支持大样品测试功能,并有流程指引设计。



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