X荧光光谱仪,简称XRF,是一种物理的元素分析方法,具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势,在电子、电器、珠宝、玩具、服装、皮革、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业发挥了重大的作用。

XRF-UX-450型X荧光光谱仪，采用美国电制冷Si-PIN探测器，大幅提高了仪器的检出限和检测精度，元素测试范围：从硫S--铀U的所有元素。

主要应用有：准确检测欧盟RoHS指令限制的有害物质，铅Pb、汞Hg、镉Cd、六价铬Cr、多溴联苯、多溴联苯醚；卤素氯CL、溴Br；玩具、服装、皮革等行业限定的8大重金属，镉(Cb)、铅(Pb)、汞(Hg)、铬(Cr)、锑(Sb)、砷(As)、钡(Ba)、硒(Se)；合金成分分析；镀层厚度检测等等。

一  、产品概述

4.1       特点

4.1.1.       工业电脑及仪器一体化集成，运行稳定且外观精美；

4。1。2。       采用真实500万像素摄像头,样品观察清晰,定位准确；

4.1.3.       采用独特元素二次强度提取算法，提高了微量元素的检出限；

4.1.4.       自定义的物料测试完成声音提醒功能，方便操作人员多任务工作；

4。1。5。       工作指示灯采用流水灯控制模块,操作人员更直观了解仪器状态；

4.1.6.       软件集成了同一模式多个RoHS限量标准的判断功能；

4。1。7。       同一软件集成了成分分析和镀层厚度分析。

4。1。8。       核心配件独立模块设计,避免相互电磁干扰,提高了仪器的检出限,降低了仪器的故障率；

4.1.9.       多种语言软件版本。

4.2       功能

4.2.1        集成数据统计功能，方便品质部门通过筛选统计供应商、物料名称、部件以及通过不同时间段测试状况；

4.2.2        提供开放式工作曲线标定功能，可为用户量身定做最佳的有害物质检测方法和控制方案；

4.2.3        软件开机自检与故障判断功能，保证仪器始终在最佳工作状态下运行以及出现异常时及时排除；

4.2.4        分析数据一键备份\还原功能，避免因误操作或其它原因造成的损失，保障数据及系统文件安全；

4.2.5        根据用户需求自行定制测试报告输出格式(Excel、PDF和列表等)，符合工厂多种统计要求；

4.2.6        软件支持多用户注册，便于品质部门快速追溯疑问物料检测情况；

4.2.7        具有核心硬件实时温度监控功能，通过热源分析设计与软件实时控制，将硬件的热量及时排出，减少探测器受温度变化而产生的影响；

4。2。8        分析软件具有因样品材质、形状、大小的不同而自动设定管压\管流,能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能,大幅提高测量精度；

4.2.9        支持大样品测试功能，并有流程指引设计。